빔 스플리터를 이용하여 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템
| 대표분류 | 측정/검사/시험 | ||
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| 연구기관 | 한국천문연구원 | 연구자 | 한정열 |
| 기술내용 |
이전대상 특허번호: 10-1375378(한국) 이전유형: 통상실시권 기술료: 무상 비고: - 본 발명은 빔 스플리터를 이용하여 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템에 관한 것으로 이러한 본 발명의 한 실시예는 광통부를 가지는 제1 주반사경과 상기 제1 주반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경을 구비한 주반사경부, 상기 주반사경부와 마주보게 위치하며, 상기 제1 및 제2 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키는 부반사경부, 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛 중 테라헤르츠(tera hertz) 대역의 신호를 통과시키고 나머지 빛을 반사시키는 빔 스플리터(beam splitter), 상기 빔 스플리터로부터 반사된 빛에서 적외선을 필터링하여 상을 맺어주는 제1 결상광학계, 상기 제1 결상광학계에 의해 얻어진 상기 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor), 상기 빔 스플리터를 통과한 상기 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하는 제2 결상광학계, 그리고 상기 제2 결상광학계에 의해 필터링된 상기 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출기를 포함한다. |
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