메타머티리얼을 이용한 센싱 플랫폼 및 이를 이용한 라벨 프리 센서

메타머티리얼을 이용한 센싱 플랫폼 및 이를 이용한 라벨 프리 센서 상세정보
대표분류 측정/검사/시험
연구기관 한국기계연구원 연구자 송경준
기술내용 이전대상 특허번호: 10-1424987(한국)
이전유형: 양도/전용/통상실시권
기술료: 양도 300만원 이상/전용실시 200만원 이상/통상실시 100만 이상(3년)
비고: 부가세 별도

본 발명에 따른 메타머티리얼을 이용한 센싱 플랫폼은 다수의 메탈릭 패치 엘리먼트(metalic patch element); 다수의 메탈릭 와이어 엘리먼트(metalic wire element); 및 상기 다수의 메탈릭 패치 엘리먼트와 상기 다수의 메탈릭 와이어 엘리먼트의 사이에 위치하는 다이일렉트릭 서브스트레이트(dielectric substrate)를 포함하는 것을 특징으로 한다. 그 결과, 본 발명에 따른 메타머티리얼을 이용한 센싱 플랫폼은 센싱 플랫폼 위의 물질이 달라졌을 때 공명주파수의 변화가 크고 대역폭이 좁아지도록 설계하는 것이 용이하다. 또는 본 발명에 따른 센싱 플랫폼을 포함하는 라벨 프리 센서는 검사 성능이 우수하다.
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