코팅 균질도 측정용 시편롤 및 이를 이용한 코팅 균질도 측정방법
| 대표분류 | 측정/검사/시험 | ||
|---|---|---|---|
| 연구기관 | 한국기계연구원 | 연구자 | 이승우 |
| 기술내용 |
이전대상 특허번호: 10-1517604(한국) 이전유형: 양도/전용/통상실시권 기술료: 양도 300만원 이상/전용실시 200만원 이상/통상실시 100만 이상(3년) 비고: 부가세 별도 코팅 균질도 측정용 시편롤 및 이를 이용한 코팅 균질도 측정방법이 개시되어 있다. 개시된 시편롤은, 원주면 상에 길이방향으로 슬롯이 형성된 롤상의 본체; 및 상기 슬롯의 길이방향을 따라 슬라이딩 삽입되되, 그 길이는 슬롯과 같으며, 표면은 상기 본체의 외주면과 동일면을 이루도록 원호형상을 갖는 측정팁을 포함하는 것이다. 개시된 측정방법은, 시편롤의 슬롯에 측정팁을 끼워 넣은 상태에서 시편롤을 코팅장비에 설치하는 단계(S10); 상기 코팅장비를 작동시켜서 시편롤의 표면에 코팅막을 코팅하는 단계(S20); 상기 시편롤에서 측정팁을 분리하는 단계(S30); 및 상기 측정팁을 측정장비에 투입하고, 측정장비에 의해 측정팁의 코팅 균질도를 측정하는 단계(S40)를 포함하는 것이다. |
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