고분자 및 코팅 소재의 스크래치 표면 손상 정량화 방법
| 대표분류 | 측정/검사/시험 | ||
|---|---|---|---|
| 연구기관 | 한국화학연구원 | 연구자 | 이재흥 |
| 기술내용 |
이전대상 특허번호: 10172070.4(독일) 이전유형: 양도 기술료: 550만원(부가세포함) 비고: - 본 발명은 고분자 및 코팅 소재의 표면에 생성된 긁힘(mar)과 스크래치(scratch)에 의한 표면 손상 정도를 정량적인 수치로 평가할 수 있는 방법에 관한 것으로, 고분자 및 코팅 소재의 표면에 생성된 스크래치에 의한 표면 손상을 정량화하기 위하여, 고분자 및 코팅 소재의 시험편을 준비하는 단계; 상기 시험편의 표면에 스크래치 손상을 유도하는 단계; 상기 시험편의 표면에 생성된 스크래치 손상을 해당하는 색좌표로 나타내는 단계; 상기 시험편 표면에 작용한 하중과 스크래치 손상에 해당하는 색좌표를 조합하여 정량화된 수치인 스크래치 손상 지수를 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 고분자 및 코팅 소재의 스크래치 표면손상 정량화 방법을 제공한다. |
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