고분자 및 코팅 소재의 스크래치 시인성 정량화 방법
| 대표분류 | 측정/검사/시험 | ||
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| 연구기관 | 한국화학연구원 | 연구자 | 이재흥 |
| 기술내용 |
이전대상 특허번호: 10-2010-0030993(한국) 이전유형: 양도 기술료: 550만원(부가세포함) 비고: - 본 발명은 고분자 및 코팅 소재의 표면에 생성된 긁힘(mar) 및 스크래치(scratch)에 의한 표면 손상의 시인성(visibility)을 삼차원 색좌표를 통해 정량화된 수치로 나타내고, 이를 이용하여 스크래치 시인성 지수(Scratch Visibility Index, SVI)로 산출해냄으로써 소재의 표면 손상의 시인성을 정량화하여 평가하는 방법에 관한 것으로, 고분자 및 코팅 소재의 표면에 생성된 스크래치에 의한 표면 손상의 시인성을 정량화하기 위하여, 고분자 및 코팅 소재의 시험편을 준비하는 단계; 상기 시험편의 표면에 스크래치를 발생시키는 단계; 상기 스크래치에 의한 표면 손상을 스캔하여 이미지를 획득하는 단계; 색분석 소프트웨어를 이용하여 상기 이미지를 각 픽셀 별로 색분석하여 표면 손상의 변화추이를 색좌표로 프로파일화하는 단계; 상기 색좌표와 시험편의 표면에 작용하는 하중의 변화추이를 도식화하고 스크래치 시인성과 관련된 성분만을 판별 조합하여 스크래치 시인성 지수(SVI)로 나타내는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 고분자 및 코팅 소재의 스크래치 시인성 정량화 방법을 제공한다. |
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