구조화 지수를 이용한 3차원 지질구조 해석방법

구조화 지수를 이용한 3차원 지질구조 해석방법 상세정보
대표분류 측정/검사/시험
연구기관 한국지질자원연구원 연구자 박계순
기술내용 이전대상 특허번호: 10-1157792(한국)
이전유형: 통상실시권
기술료: 중소기업 기준 : 기술지도 미포함 조건 / 기술료 300~500만원
비고: 부가세 별도

본 발명에 따른 구조화 지수를 이용한 3차원 지질구조 해석방법은 동일한 3차원 그리드 (L x M x N) 상에서의 두 개 이상의 물성모델 Ddata(L,M,N)과 Rdata(L,M,N)을 각각 계산하는 공동 좌표 물성값추정단계; 상기 공동 좌표 물성값 추정단계를 통해 획득된 물성모델을 각각 정규화하여 NDdata(l,m,n)와NRdata(l,m,n)의 정규화 물성모델을 획득하고, 물성간 산포도로 나타내는 정규화단계; 상기 정규화단계를 거친, NDdata(l,m,n)와NRdata(l,m,n)의 물성간 산포도 상에서 위치하는 분포 위치를 4상한 역탄젠트(Four-quadrant inverse tangent)를 이용하여 구조화 각도 (Type Angle; TA)값으로 변환하고 원점에서 떨어진 거리를 이용하여 구조화 강도 (Type Intensity; TI) 값으로 변환하는 TA 및 TI값 변환단계; 상기 TA 및 TI값 변환단계를 통해 획득된 TA 값과 TI값을 이용하여, 산포도로 나타내고, 산포도 상에서 두 개 이상의 영역으로 구분되는 TI 값의 최소값을 임계값(Threshold)값으로 결정하는 임계값 결정단계; 및 상기 임계값 결정단계를 통해 구분된 각각의 상기 영역의 상기 TA값의 극대점을 기준으로 3차원 지질구조를 해석하는 3차원 지질구조 해석단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
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