슬릿지그를 이용하여 구조좌표를 측정하기 위한 Ｘ―선 유방암진단 시스템 및 그 방법
| 대표분류 | 의약,의료,화장품 | ||
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| 연구기관 | 한국전기연구원 | 연구자 | 최재구 |
| 기술내용 |
이전대상 특허번호: 10-1141051(한국) 이전유형: 양도 기술료: 200만원, 단 미납연차료는 양수인 부담 비고: 부가세 별도 슬릿지그를 이용하여 구조좌표를 측정하기 위한 X-선 유방암진단 시스템 및 그 방법이 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 슬릿지그를 이용하여 구조좌표를 측정하기 위한 X-선 유방암진단 시스템은 X-선을 조사하는 X-선 소스; 선형의 슬릿을 구비한 슬릿지그; 상기 슬릿지그 하부에 위치하며, 상기 선형의 슬릿을 통과한 X-선에 대한 투영 영상을 검출하는 검출기; 및 검출된 상기 슬릿의 투영 영상을 기반으로 상기 X-선 소스를 회전시키는 회전체의 회전축에 대한 상기 검출기의 중심 위치 오차를 측정하는 제어수단을 포함하고, 상기 선형의 슬릿이 상기 회전축과 일치되도록 상기 슬릿지그를 고정시킴으로써, 검출기의 중심 위치 오차를 측정할 수 있고, 이를 통해 재 구성된 3차원 영상에 대한 신뢰성을 높일 수 있다. |
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