ＦＧＡ 알고리즘을 이용하는 서열 유사도 측정 시스템 및 이를 이용한 서열 유사도 측정 방법
| 대표분류 | 의약,의료,화장품 | ||
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| 연구기관 | 한국생명공학연구원 | 연구자 | 김태경외 3인 |
| 기술내용 |
이전대상 특허번호: 10-2012-0095457(한국) 이전유형: 전용실시 기술료: 330만원(부가세포함) 비고: 통상실시 협의 가능(희망시) FGA 알고리즘이 적용된 서열(sequence) 유사도 측정 시스템 및 이를 이용한 서열(sequence) 유사도 측정 방법을 개시한다. 상기 FGA 알고리즘이 적용된 서열(sequence) 유사도 측정 시스템을 이용한 서열(sequence) 유사도 측정 방법은 데이터 베이스로부터 복수 개의 서열(sequence) 집합 데이터들 중 2개의 서열(sequence) 데이터들 및 외부로부터 기설정된 기준값 데이터를 입력받은 후, 상기 2개의 서열(sequence) 데이터들의 서열(sequence) 쌍에 따라 프로세서에서 분류하는 제1 단계; 상기 제1 단계 이후, k-mer 알고리즘이 적용된 상기 프로세서에서 상기 2개의 서열(sequence) 데이터들의 서열(sequence) 쌍의 k-mer 거리를 계산한 제1 결과값을 추출하는 제2 단계; 상기 제2 단계 이후, 상기 제1 결과갑 중 상기 기준 데이터의 이상인 제2 결과값을 상기 프로세서에서 추출하는 제3 단계; 및 처리부에서 상기 제3 단계의 결과값을 정렬화하여, 병렬화 처리하는 제4 단계를 포함한다. |
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