형상 측정 장치 및 측정 방법 연속파THz 빔스캔을 이용한 고속3차원영상탐지장치

형상 측정 장치 및 측정 방법 연속파THz 빔스캔을 이용한 고속3차원영상탐지장치 상세정보
대표분류 측정/검사/시험
연구기관 한국표준과학연구원 연구자 이혁교, 김영식, 이주형, 양호순, 이윤우
기술내용 본 기술은 산업현장에서 3차원 형상측정의 필요성 증대됨에 따라 개발되었다.
3차원 형상측정이 가능한 공초점현미경이나 백색광주사간섭계는 대면적, 고속측정이 어려움, 진동에도 취약하다는 단점이 있었으나, 본 기술은 라인카메라를 이용하여 대면적 3차원 형상을 빠르게 측정하며, 간섭무늬를 스캔 없이 실시간으로 측정하여 진동에 강인하다.
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