소재의 미세조직 및 화학조성 정밀분석 기술지원
| 대표분류 | 측정/검사/시험 | ||
|---|---|---|---|
| 연구기관 | 재료연구소 | 연구자 | 한상호, 김성웅, 임영목, 유창종, 김성대, 최시영 |
| 기술내용 |
첨단 미세구조 분석 장치 (전자현미경: SEM, (S)TEM, 주사탐침현미경: STM, AFM) 를 활용한 소재의 정밀 구조분석 기술지원 소재의 미세구조 분석과 더불어 국부적 영역 (mm~nm) 에서의 화학조성분석 기술지원 (EDS,WDS, EELS) 외부 자극(열, 전기신호, 응력)에 따른 소재의 미세구조 변화 실시간 관찰 분석 기술지원 (in-situ EBSD, in-situ TEM) |
||
| 자료집 | 다운로드 | ||